Nanotechnologie Werkzeuge 6

 

Der zweite Streich
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Das Kraftmikroskop (AFM) - Atomic-Force-Microscope
Die sanfte Berührung

Der Physiker Gerd Binnig fragt weiter. Wie kann man dieses Pronzip auf Stoffe anwenden, die den elektrischen Strom nicht leiten?
Er kam auf die Idee, die Spitze in Bahnen über die Oberfläche zu ziehen. Die Spitze ist an einem feinsten Hebel (etwa 70 Mikrometer) befestigt, dem Cantilever. Die Spitze zieht über die Oberfläche, dabei verkrümmt sich der Cantilever noch oben und nach unten. Die Rückseite des Cantilevers wirkt als Spiegel, an dem der Strahl eines Lasers reflektiert wird. Die Auslenkung des Strahls wird mit einer Photodiode erfasst, vom Computer aufgezeichnet und zu einer detaillierten Karte der Probenoberfläche zusammengesetzt.
Auf diese Weise erreichte er erneut eine atomare Auflösung, diesmal auch für nicht leitende Stoffe